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可编程器件测试,可程式設計元件測試,Programmable Device Test
来源: | 作者:Viki | 发布时间: 2023-06-05 | 305 次浏览 | 分享到:

可编程逻辑器件 (Programmable Loeie Device,PLD)是一种用户编程实现某种逻辑功能的逻辑器件,主要由可编程的与阵列、或阵列、门阵列等组成,可通过编程来实现一定的逻辑功能。PLD 按集成度高低可分为简单 PLD 和复杂PLD,简单 PLD包括可编程只读存储器 ( Proerammable Read Onlv Memory,PROM)、可编程逻辑阵列 (Prograrmable Logie Array, PIA)器件、可编程阵列逻辑(Prograrmable Array Logie, PAL)器件、通用阵列逻辑 ( Generic ArrayLogic, CAL)器件;复杂 PLD 包括可擦可编程逻辑 (Erasable PLD, EPLD) 器件、复杂的可编程逻辑 (Complex Programmable Logie Device, CPLD)器件、场可编程门阵列 ( Field Programmable Gate Array, FPGA)器件等。随着可编程器件的发展,可以将 CPU、DSP、ADC/DAC、存储器等集成到一个可编程器件上,从而构成可编程系统芯片 (System On Programmable Chip, SoPC),如图所示。

对PLD进行测试时,需要对其内部包含的资源进行结构分析,经过测试配置(TC)将其编程配置为具有特定功能的电路,再通过向量实施(TS) 过程对电路进行功能及参数测试。

因可编程逻辑单元工艺不同,PLD 的编程工艺也不相同,主要有熔丝(Fuse)、反熔丝(Ani-fuse)、可擦可编程只读存储器 (Erasable ProgrammableRead Only Memory,EPROM)、电可擦可编程只读存储器 (Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory, E²PROM)、静态随机存取存储器 (StaticRandom Aecess Memory, SRAM)和闪速存储器(Flash Memory)等。常用的测试编程方法有在系统可编程 (In-System Programmable, ISP)、联合测试工作组(Joint Test Action Group, JTAG)协议编程、串行外设接口 ( Serial PeripheralInterface. SPI)编程、主模式/从模式编程等在系统可编程 (ISP)技术是莱迪思公司在 20 世纪 80 年代提出的一种先进