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射频集成电路测试,射頻積體電路測試,RF IC Test
来源: | 作者:Viki | 发布时间: 2023-06-02 | 298 次浏览 | 分享到:

射频信号是一种具有远距离传输能力的高频电磁波,广义上的射频(RF)包括了 300kHz~300GHz 的频段口。射频集成电路(RFIC) 包括多种功能电路,如低噪声放大器(Low Noise Amplifier, LNA)、功率放大器 (Power Amplifer,PA)混频器(Mixer)、锁相环(Phase Locked Loop,PLL)、开关、射频收发前端(Front End)、调制解调器(Modulator/Demoduletor) 等。射频集成电路可以集信号的编/解码、数据处理、控制等功能于一体,功能十分强大,广泛应用于3G/4G、 WLAN、GPS、Bluetooth 等方面。图所示为典型射频信号收发电路架构图。

针对射频集成电路需要采用分布参数电路的分析方法,通常使用微波网络法来对其进行测试。最重要的微波网络参数是 S 参数,它是建立在入射波与反射波关系基础上的网络参数,用于评估反射信号和传输信号的性能。以二端口网络为例。S参数有4个,分别为S₁、S、S、S如图所示。

从信号传播的角度,可以把电信号的传播看作电磁场在导线中的传播,如果遇到阻碍(如阻抗发生变化),信号将发生反射,这就是传输线理论。回波损耗是表示信号反射性能的参数14。实际测试时,期望信号以最大功率、最小损耗和最小反射来进行传输,这就需要所有的射频信号通路均符合阻抗匹配的要求。在实际测试硬件设计中,PCB 上的射频信号通常采用 50Ω特征阻抗的微带线进行连接,PCB 的射频端口采用同轴连接器,再用同轴电缆与测试资源的射频端子进行连接。在开始射频电路测试前,通常还需要通过校准操作将测试设备及连接线等引起的损耗去除。

在射频集成电路测试参数中,除了直流参数及功能参数,其主要的性能参数还包括S参数、功率(Power)、增益(Gain)、增益平坦度 ( Gain Flatness)。1dB 压缩点(P1dB)、三阶交调 (Third- Order Intercept Point, IP3)、邻道功率比 (Adjacent Channel Power Ratio, ACPR)、噪声系数 (Noise Figure, NF)、相位噪声(Phase Noise,PN)、误差矢量幅度 (Brror Vector Magnitude, EVM) 等。

这些参数主要用于验证射频电路的输出功率及线性度工作范围.噪声的影响,以及调制信号的幅度误差和相位误差等。