​启闳半导体科技(江苏)有限公司QiHong Semicon TECHNOLOGY (JIANGSU) CO.,LTD

电子邮箱  
密码      忘记密码?
  注册
可编程器件测试,可程式設計元件測試,Programmable Device Test
来源: | 作者:Viki | 发布时间: 2023-06-05 | 333 次浏览 | 分享到:

的编程技术,广泛用于 PROM、CPLD 和 FPGA 等的在系统编程。ISP 状态机有两种,即三状态 ISP 状态机和 IEEE1149.1 标准的 JTAG 状态机(见图)。

FPCA 的编程模式有多种,包括主串模式、从串模式、主并模式、从并模式、外设模式等,可以通过设置模式控制 脚的状态水选择不同的模式。为了提高测试效率,用自动测试系统对 FPGA 进行测试配置时,通常选择主并模式或从并模式。

PLD 的测试方法有多种,主要包括在系统快速配置测试法、DFT测试法、内建自测试法(BIST)、扫描测试法(SCAN)、功能级联测试法、基于黑盒的测试法,动态可重构测试法、定制软件测试法、白适应测试法和基于板級应用的测试法等。随着测试技术的发歷,一些新的测试方法不断涌现,要达到较高的湖试覆盖率,需果用多和方法相结合的方式进行测试,进行 PLD 测试时,首先需要开发配置码。配置码可以在相应开发环境(如XILINX公司的ISE、Altera 公司的 Quartus、Lattice 公司的 ispLEVER、Actel 公司的 Libero SoC、Cypress 公司的 Warp 等)下开发配置程序,生成.bit、.rbt、.bin.svt 等多种格式的 下载码;再根据测试需求进行适当转换,生成配置码;然后利用测试系统对 PLD 进行配置,形成具有一定功能的电路;最后加载测试码,对电路进行功能和参数测试。PLD 测试流程图如图所示。