半导体制造商供应使用者的半导体样品，有几种不同的种类（图5-3-1）。如5-3-2所示，样品可大致分别为开发时期跟量产时期两种。

①开发时期的样品

从半导体的设计、试作、量产化的期间，所作出的开发阶段时期的样品，可以分别为下述三种。

• DS（Design Sample，设计样品）

指的是半导体导电性验证尚未进行的阶段的样品。亦称为最初的样品（first sample）。若搭载不能作动的晶片，或是不搭载晶片仅供作实装性的评估及检讨的状况，亦可称为MS（Mechanical Sample，机构样品）

• ES (Engineering Sample ，工程样品）

指的是功能评估用的样品，能够以此进行某一程度的操作确认，但在特性及可靠性方面可能会发生问题。

例如CPU的工程样品，主要供机器制造商针对新开发的CPU进行搭配的电路设计为目的。也就是说，依新开发的CPU的供成样品，进行电脑的主机板的设计，以完成产品。此时，工赶样品已包括了次世代的CPU的架构，使用者能够将工程样品做为先进技术的展示品。

此阶段的CPU还有bug，机器制造商若发现bug可向半导体制造商回馈，促使CPU的进版。随着改版的过程，新版的CPU会被配送到机器制造商手中。工程样品有有偿及无偿的提供方式。

•CS（Commercial Sample，商业样品）

已经完成操作确认及可靠性评估的样品，依此能够进入量产。理所当然的，这个阶段的样品为有偿样品。

②量产时期的样品

产品经量产化，根据使用者的需求，而由半导体制造商提供各种样品。特别是使用者要拿来进行可靠性实验的样品，又称为QT（Quality Test）样品。