自适应测试最早出现于1993年，是指通过从临近晶元上获得数据来预测被测器件成品率的方法。使用该测试方法，可以通过调整测试时间(或故障覆盖率)来获得期望的缺陷水平，从而在相同的测试时间内减少测试的次数，打升测试的质量。