IEEE 1500仅标准化了内核周围的测试外壳和TAM的接口。为了便于内核测试复用和SoC级测试程序开发，IEEE 1500 工作组又成立了一个内核测试语言(CTL)工作组。CTL可描述各种复杂的信号、分层模型和内核测试所要求的复杂信号时序及其在SoC级的复用。传递的测试信息包括测试方法，测试模式和测试规约，测试向量数据，故障模型和故障覆盖率数据，可测试性硬件信息及诊断信息。