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嵌入式内核测试
来源:整理综合自《集成电路产业全书》 | 作者:Belle | 发布时间: 2022-05-10 | 391 次浏览 | 分享到:


IEEE 1500仅标准化了内核周围的测试外壳和TAM的接口。为了便于内核测试复用和SoC级测试程序开发,IEEE 1500 工作组又成立了一个内核测试语言(CTL)工作组。CTL可描述各种复杂的信号、分层模型和内核测试所要求的复杂信号时序及其在SoC级的复用。传递的测试信息包括测试方法,测试模式和测试规约,测试向量数据,故障模型和故障覆盖率数据,可测试性硬件信息及诊断信息。