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AA 方块电阻的测试条件-----《集成电路制造工艺与工程应用》 温德通 编著
来源: | 作者:LiLi | 发布时间: 2024-12-02 | 74 次浏览 | 分享到:

图5-57b所示 测量Rs_PAA 和 Rs_PAA_SAB 的示意图。测量p型AA方块电阻的基本原理是在电阻的一端和衬底加载电压DC电压1V,另一端接地,从而测得电流Ip,RS_PAA =(1/Ip) (L/W),W和L分别是AA 方块电阻的宽度和长度。

影响AA方块电阻的因素包括以下几方面:

1)n+和p+离子注入异常;

2) AA 刻蚀尺寸异常;

3)硅金属化(Salicide)相关工艺。