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源漏离子注入工艺-----《集成电路制造工艺与工程应用》 温德通 编著
来源: | 作者:LiLi | 发布时间: 2024-11-07 | 159 次浏览 | 分享到:

13)去除光刻胶。干法刻蚀和湿法刻蚀去除光刻胶。图4-209所示为去除光刻胶的剖面图。

14) P+退火激活。利用快速热退火在800°C的H2环境中,修复p+离子注入造成硅表面的晶体损伤,恢复晶格结构,激活硼离子。