(Fast Fourier Transform， FFT） 将采样的时域信号变换为频域信号进行处理，•析得到混合信号集成电路的动态参数。动态参数包括信噪比 ( Signal Noise Ratio,SNR)、总谐波失真 (Total Harmonie Distorion， THD）、有效位数（EffeetNumber of Bits, ENOB）、无杂散动态范围 ( Spurious Free Dynamic Range,SFDR)、噪声与谐波总失真 (Signal to Noise and Distortion. SINAD)、互调失真(Intermodulation Distortion， IMD）等。在理想的转换器中，SINAD 和 SNR 是相同的。如果 SNR 是转换器所能达到的理想状态，SINAD 是反映转换器实际性能参数的指标，则 SINAD 越接近 SNR，表示其性能越好。ENOB 可以在信噪比基础上计算得出，即

                         ENOB= ( SINAD-1.76）/6.02

测试混合信号集成电路时，同样需要考虑可测性设计，以及设计与测试的链按，提供其测试所需的软硬件环境。混合信号集成电路测试系统除了具备数字集成电路测试系统的能力，还应具备产生高准确度任意波形的能力，捕捉和处理数字信号及模拟信号的能力，以及数宇模块与模拟模块同步的能力。

针对现阶段不断涌现出的高速、高精度 ADC/DAC，如果测试用的自动测试系统无法提供满足其要求的高精度时钟、信号源等，可采用高质量的分立仪器，或者进行回环(Loopback）测试；针对测试负載板（Load Board)，不仅要在设计上保证电源、地的干净，还要格外注意时钟及高速/高精度信号等关键信号的布线问题，并对信号进行充分的滤波处理。目前，新的标准 IEEE 边界扫描方法己经完全适用于混合信号测试，如果将来能实现混合信号集成电路的结构测试，将大大降低其测试难度 与测试成本。