Current, FIMI) 的模式来进行测试。测试时，如果测试线路上的电流较大，则必须采用开尔文连接（Kelvin Connections)，以消除该线路上产生的电压降。针对输出引脚某一高/低状态下的电压或电流进行测试时，需要先运行一段测试向量，使电路被测引脚处于期望的高/低状态，然后再进行测量。随着测试技术的不断进步，当前主流数字信号测试系统在每个数字通道上均包含PMU，可实现对被测电路的多个引1脚直流参数的并行测试。

（4） 交流参数测试：交流参数包括频率（Frequency）、上升/下降时间(Rise/Fall Time)、传输延迟时间(Propagation Delay）、建立/保持时间 (Setup/Hold Time） 等。可通过不断改变功能测试中测试向量的时间沿进行扫描测试，或者直接采用测试系统的时间测量单元 (Time Measurement Unit, TMU)进行交流参数测试，其测试精度由 所采用的测试资源的精度決定。目前，主流数宇集成电路测试系统可测试的数字集成电路引脚数己超过7000 个，测试速率可达到Cbit/ s，时沿精度可达 100ps 以下。随着数字集成电路规模的不断扩大，新的测试技术需要不断提高测试效率，朝着高并行测试、并发测试的方向发展。