为了应对工艺偏差引起的成品率的严重下降，近年来还提出了一些可调或自修复的电路设计方法。这些方法在电路设计阶段引入一些可调单元来调整电路的偏置、驱动能力和负载等；在电路制造后，根据电路的实际偏差，通过人工测试或自动测量电路性能，对可调单元进行手工或自动调整，以提高电路性能和成品率。这种设计方法由于可以在制造后调整，可以降低为应对工艺偏差引入的不必要的面积和功耗开销。

成品率设计是集成电路进入纳米尺度后必须采用的设计方法，只有在设计阶段考虑工艺偏差的影响，才能有效地提高集成电路的成品率。随着工艺尺寸的进一步缩小，成品率设计方法将变得更加重要。